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超高真空表面分析平台—MULTIPROBE
扫描探针显微镜系统(SPM){RT/VT/LT SPM、MFM、EFM、Kelvin Probe、Q-Plus
   }
X射线光电子能谱仪(XPS){ESCA+、NanoESCA}
超高真空纳米级四探针测量系统—NANOPROBE
多功能表面联合分析系统(SEM-SAM-STM)
高性价比极低温测量分析系统(LTSYS){CFM、AFM、SNOM、CPS}
飞行时间二次离子质谱仪
分子束外延系统(MBE)
新品:AO 500紧凑型快速退火系统

  ·组件
能量分析器(Electron Energy Analyzer)
光发射电子显微镜(PEEM)
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X光源与紫外光源
RHEED--反射高能电子衍射仪
低能电子衍射(LEED)
分子束外延组件(MEB Components)

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Raith电子束光刻系统
光刻胶(光刻抗蚀剂)
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纳米压印标准模板及压印胶
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纳米定位技术
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宽频介电和阻抗谱仪

  实验样品库:
标准纳米颗粒——聚苯乙烯标准颗粒
科研用各种材料
新品:纳米材料-Graphene石墨烯


凯乐红外测温仪

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  ·分子束外延系统(MBE)
  ·新品:AO 500紧凑型快速退火系统

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    LEED、分子束外延组件


微纳加工技术

  ·Raith电子束光刻系统
  ·光刻胶(抗蚀剂)
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