材料介电性能测量

材料介电性能测量

设备名称：宽频介电阻抗谱仪

设备原产地：德国

设备生产厂家：Novocontrol

可测量样品种类：固体、薄膜、液体、粉末等

可测量参数：可测量包括介电常数、损耗因子、电容、阻抗、电导率等三十多种参数，并且可直接将测量结果在线显示为2D/3D曲线，也可直接将数据导出为ASCII格式，便于用户进行后续处理。

主要用途：可测量变温变频条件下材料的介电性能，另外还能够测量材料的热激励电流（TSDC/TSC谱）等，分析材料的极化机制、玻璃化转变温度、激活能（或陷阱深度）等等。另外还可以增加高达±2000Vac/Vdc的外置偏压，研究材料在高压偏场下的介电性能。

样品要求：

• 固体：样品上下表面平滑，能够与电极片充分接触
  • 低频样品尺寸：直径不大于40mm，厚度不大于10mm；
  • 高频样品尺寸（直径）：10~12mm,厚度小于5mm,非易碎材质。建议在样品表面制备电极。
• 薄膜：样品上下表面平滑
  • 低频薄膜尺寸：直径不大于40mm
  • 高频薄膜尺寸：直径10~12mm，厚度：微米范围（纳米尺寸需要具体确认）。建议在样品表面制备电极。