北京汇德信科技有限公司

介电与阻抗分析仪

——频率范围内材料或成分的电性分析


阻抗分析仪测量的是随频率ω/(2π)变化的复阻抗Z*(ω) = Z'(ω) + jZ''(ω),对于材料分析,我们将样品置于二个或多个电极之间来测量它的阻抗谱。


要准确分析样品的特性,对于阻抗分析仪的要求非常高,测量结果的质量及有效性大大依赖于仪器的性能。


实际应用中,一般大家的着眼点不仅在于获得特别高的精度,同时更希望能以全自动的方式来测量复阻抗Z*(ω), 介电常数*(ω) 或电导率*(ω)。


除了频率范围,阻抗范围、损耗精度tan(d)及相位差精度也是非常重要的性能参数。


低频分析仪<40MHz


Alpha和Beta 阻抗分析仪


- 量程:阻抗分析范围0.01~1014 W, tan(d) > 3*10-5

- 结合一般阻抗分析仪和电介质测量系统的特性,提高了tan(d)的精度。
- 可很方便地测量几乎所有材料及成分,测量宽频低损耗电介质,如聚乙烯。

- 使用软件WinDETA.


Alpha系列:
Single Purpose High Performance Dielectric/Impedance Analyzer with 2-wire input
ALPHA-L: Economical
F=3μHz…300KHz
ALPHA-K: Universal
F=3μHz…3MHz
ALPHA-N: Top Class
F=3μHz…20MHz
ALPHA-T: High frequency
F=3μHz…40MHz
阻抗分析仪 Alpha系列
阻抗分析仪 Alpha系列


Beta系列:
Single Purpose High Performance Dielectric/Impedance Analyzer with 4-wire input
BETA-L: Economical
F=3μHz…300KHz
BETA-K: Universal
F=3μHz…3MHz
BETA-N: Top Class
F=3μHz…20MHz
BETA-T: High frequency
F=3μHz…40MHz
阻抗分析仪 Beta系列
阻抗分析仪 Beta系列


Alpha-A 阻抗分析仪
- 量程:阻抗分析范围0.001 ~1015 W, tan(d) > 3*10-5
- 结合一般阻抗分析仪、电介质和电化学测量系统的特性,提高了tan(d)的精度。
- 可很方便地测量几乎所有材料及成分,测量宽频低损耗电介质,如聚乙烯。
- 支持一系列高性能特殊功能test interfaces,如集成active sample cell, 四通道高阻抗测量,高电压/高电流测量。
- 使用软件WinDETA.


Alpha–A系列:
Frequency Response Analyzer (FRA) and Test Interface for multi-purpose applications
ALPHA-AL:   High resolution economical FRA
F=3μHz…300KHz
ALPHA-AK:  High resolution universal FRA
F=3μHz…3MHz
ALPHA-AN:  High resolution top class FRA
F=3μHz…20MHz
ALPHA-AT:  High resolution high frequency FRA
F=3μHz…40MHz
Alphy-A阻抗分析仪
Alpha-A 阻抗分析仪
三种阻抗分析仪对比:
Alpha-A标准模块系列
Alpha单元系列
Beta单元系列
Alpha-A标准模块测量系统是单元分析仪Alpha和Beta的扩展。配合test interfaces,功能更加强大,使用更灵活。因此推荐用于新的系统设计。
- Alpha-A + ZG2 interface包含Alpha单元分析仪的所有功能。
- Alpha-A + ZG4 interface包含Beta单元分析仪的所有功能。


Alpha-A主机支持通过GPIB端口自动软硬件升级,利于将来与新研制的test interfaces配套。


Test Interfaces


- Test Interfaces扩展了Alpha-A的功能,Alpha-A主机在使用过程中必须连接至少一个Test Interfaces,主机自动检测到Test Interfaces,相应调整自身功能。
-  除了G22,所有Test Interfaces支持自动标准电容测量,且适合导体及绝缘体样品测量。
-  除了HVB,所有Test Interfaces支持二通道高精频率响应及相增益测量。


一般用于介电、电导、阻抗测量以及相增益谱


ZGS


二电极测量,具有与ZG2相同的功能,其集成于主动平板样品架上,用于温度控制系统。
推荐用于可置于平板电极之间的电介质或导体样品测量,如聚合物、半导体、玻璃、液体或粉末。



ZG2


二通道测量,结合BDS1200被动平板样品架或用户自制样品架。



ZG4


具有与ZG2相同的功能,另外,支持3或4通道测量,高阻抗1 TW | 10 pF,不同电压输入。
特别推荐用于:
- 接触电阻大、极化程度大的样品,如电解液、液体。
- 低阻抗样品,<1W,如强电解液,重掺杂半导体,金属,超导体。



高电压Interfaces用于介电、电导和阻抗测量


HVB300,HVB1000,HVB4000高电压Interfaces,用于直流或交流振幅,分别为±150 Vp或±500 Vp及±2000 Vp


特别推荐用于电介质、半导体及电子元件,在直流或交流高电压下,进行:
- 非线性介电、电导、阻抗测量
- 应力状态下材料性质测量
- 高阻抗样品(>1014 W)的测量



相增益Interfaces


G22


用于高精度频率响应与相增益测量,不能用于材料的阻抗测量。




 

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